新しい技術やデバイスにより、さらに微細な不具合を解析可能にします。 ディテクタ傾斜や試料回転時に着目が動かないユーセントリック機能、　　　　　　高アスペクト比の試料を高倍率でCT撮影できる”3次元斜めCT”など、 世界初開発の機能で”ナノワールド”のX線解析装置を提供します。